Erlaubt die Kontaktierung kleinerer Testpads im einem engeren
Rastermaß
Plattensandwich zur mechanischen Umsetzung der Starrnadeln von
einer extrem engen Adaption auf Standardrastermaß
Verdrahtung in Wire-Wrap-Technik
Sonden oder Betätigungselemente integrierbar
Hohe Treffergenauigkeit durch Aufliegen des Prüflings auf dem
Sandwich
Kontaktierung von Testpads mit einem Durchmesser
von 0,4 mm und einem Rasterabstand von 24 mil
(0,60 mm) möglich
Direktadaption von Vias ohne Testpads bei höchster "Packungsdichte“
Bilevel-Option möglich
Beidseitige Fine Pitch Kontaktierung möglich
Die Möglichkeit, kleinere Testpads in einem engeren Raster zu
setzen, reduziert den Entwicklungsaufwand beim Layout enorm
und kann den Aufpreis für einen Fine Pitch Adapter auffangen